湖北工业职业技术学院学报

2003, (02) 62-64

[打印本页] [关闭]
本期目录(Current Issue) | 过刊浏览(Past Issue) | 高级检索(Advanced Search)

浅谈单片机系统的可靠性技术
Brief introduction of the reliability technique of the single chip microcomputer

唐德礼,唐列娟

摘要(Abstract):

根据单片机系统在工业测控领域中易受干扰而失控的分析,从硬件和软件两方面祥细论述了在单片机系统设计中抗干扰设计的重要性及其方法。

关键词(KeyWords): 单片机;抗干扰;冗余;陷阱

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 唐德礼,唐列娟

Email:

DOI:

扩展功能
本文信息
服务与反馈
本文关键词相关文章
本文作者相关文章
中国知网
分享